全球性能最优的大样品台AFM

Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有高水平的性能、功能和配件选择， 其测试功能强大，操作简便易行。

齐集Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求， Dimension Icon进行了全面革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平。现在，用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。

高性能和高分辨率

Dimension® Icon™优秀的分辨率，与Bruker 特有的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。

Dimension® Icon™是针尖扫描技术的最新革新，一直处于领先地位。

该系统配置温度补偿位置传感器，实现了Z 轴亚埃级和XY 轴埃级的低噪音水平，将这个性能应用在90 微米扫描范围、大样品台系统上，效果甚至超过高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。

XYZ 闭环扫描头的新设计使仪器在较高扫描速度工作时，图像质量也不会被损坏，实现了更大的数据采集输出量。

配置Bruker 专利的PeakForce®技术，Dimension Icon可实现智能获取高分辨图像。

卓越表现

Dimension Icon Dimension Icon 在原有的操作平台上引入最新技术，展现出更高的性能和更快的测量速度。

其软件直观的工作流程，使其操作过程比以往最先进的AFM 技术更加简便。

Dimension Icon用户无需像以前一样，通常需要几小时的专业参数调整，即可立即获得高质量的测量结果。

Dimension Icon 的每个方面，从完全开放式针尖样品空间，到软件参数预设置，都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM 易用性。

灵活的AFM平台

Dimension Icon 展现出了的无与伦比的性能，稳定性和灵活性，几乎可以实现以前只有在特制系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型或多元样品支架和许多简单易用的性能，把AFM 的强大功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM成像和纳米操作设定了新的标准。

Dimension Icon 提供对性能没有任何影响的灵活性平台， 一个平台，无限可能：

• 开放的平台，能整合其他技术
• 开放的软件和硬件，能轻松定制您的研究应用- "如果它不存在， 就发明它"
• 电池、有机太阳能等研究的完整解决方案

用AFM拓展您的应用

凭借一整套出色的AFM成像模式，布鲁克能为您每项研究提供适用的AFM 技术。

基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。